100 מ"מ 4 אינץ' GaN על רקיק אפי שכבת ספיר גליום ניטריד
תהליך הצמיחה של מבנה באר קוונטים של GaN כחול LED.זרימת התהליך המפורטת היא כדלקמן
(1) אפייה בטמפרטורה גבוהה, מצע ספיר מחומם תחילה ל-1050 ℃ באווירת מימן, המטרה היא לנקות את משטח המצע;
(2) כאשר טמפרטורת המצע יורדת ל-510℃, שכבת חיץ GaN/AlN בטמפרטורה נמוכה בעובי של 30nm מונחת על פני מצע הספיר;
(3) עליית טמפרטורה ל-10 ℃, גז התגובה אמוניה, טרימתיל-גליום וסילאן מוזרקים, בהתאמה שולטים בקצב הזרימה המקביל, ומגדלים את ה-GaN מסוג N המסומם בסיליקון בעובי 4um;
(4) גז התגובה של טרימתיל אלומיניום וטרימתיל גליום שימש להכנת יבשות N מסוג A⒑ מסוימות בסיליקון בעובי של 0.15um;
(5) InGaN 50nm מסומם Zn הוכן על ידי הזרקת trimethylgalium, trimethylindium, diethylzinc ואמוניה בטמפרטורה של 8O0℃ ושליטה בקצבי זרימה שונים בהתאמה;
(6) הטמפרטורה הוגדלה ל-1020℃, הזרקו טרימתילאלומיניום, טרימתיל-גליום ומגנזיום ביס (ציקלופנטדיניל) להכנת 0.15um Mg מסוממים P-type AlGaN ו-0.5um Mg מסוממים P-type G גלוקוז;
(7) סרט GaN Sibuyan באיכות גבוהה מסוג P הושג על ידי חישול באווירת חנקן ב-700℃;
(8) תחריט על משטח הקיפאון מסוג P כדי לחשוף את משטח הקיפאון מסוג N מסוג G;
(9) אידוי של לוחות מגע Ni/Au על משטח p-GaNI, אידוי של לוחות מגע △/Al על משטח ll-GaN ליצירת אלקטרודות.
מפרטים
| פריט | GaN-TCU-C100 | GaN-TCN-C100 |
| ממדים | e 100 מ"מ ± 0.1 מ"מ | |
| עוֹבִי | 4.5±0.5 אום ניתן להתאים אישית | |
| נטייה | C-plane(0001) ±0.5° | |
| סוג הולכה | סוג N (לא מסומן) | N-סוג (Si-doped) |
| התנגדות (300K) | < 0.5 Q・ ס"מ | < 0.05 Q・ ס"מ |
| ריכוז הספקים | < 5x1017ס"מ-3 | > 1x1018ס"מ-3 |
| ניידות | ~ 300 ס"מ2/לעומת | ~ 200 ס"מ2/לעומת |
| צפיפות נקע | פחות מ-5x108ס"מ-2(מחושב על ידי FWHMs של XRD) | |
| מבנה המצע | GaN על Sapphire (תקן: אפשרות SSP: DSP) | |
| שטח פנים שמיש | > 90% | |
| חֲבִילָה | ארוז בסביבת חדר נקי בדרגה 100, בקסטות של 25 יחידות או מיכלי רקיק בודד, תחת אווירת חנקן. | |
תרשים מפורט
